BL10:ナノサイエンスビームライン

電子蓄積リングの直線部に設置した偏光可変アンジュレータ(APPLE-況)からの高輝度な軟X線を利用して、材料評価などを行うことができます。光電子顕微鏡(PEEM1))装置と角度分解光電子分光(ARPES2))装置が設置されています。

1)PEEM:Photoemission Electron Microscopy

2)ARPES:Angle-resolved Photoemission Spectroscopy

 

偏光可変アンジュレータ

偏光可変アンジュレータ

(APPLE供法

 

角度分解光電子分光(ARPES)装置 光電子顕微鏡  (PEEM)装置

角度分解光電子分光

(ARPES)装置 

光電子顕微鏡

(PEEM)装置

 

BL10 全景

BL10 全景

   

 

光子エネルギー範囲 40 eV 〜 900 eV
エネルギー分解能 (E/△E 7500@400 eV
光子数 1 × 1010 photons/sec
偏光モード
水平直線偏光、円偏光(右回り、左回り)、楕円偏光、垂直直線偏光
(※偏光モードについては、ご相談ください)
ビームサイズ(試料面)
PEEM装置:150 μm(H) × 20 μm(V)
ARPES装置:500 μm(H) × 100 μm(V)

 

研究分野 (キーワード)
PEEM(試料表面や超薄膜の仕事関数・電子状態・元素・化学結合状態を反映した2次元実空間像、等)、ARPES(表面・界面における組成・化学結合状態及び電子状態の分析、エネルギーバンド構造の観測、表面に配列した原子や分子の構造解析、等)、NEXAFS(軽元素含有材料の局所構造解析等)

 

実験ステーション

ARPES装置(固体、薄膜)
PEEM装置(固体、薄膜)

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