BL15:物質科学ビームライン

偏向電磁石からのシンクロトロン放射光を利用できるビームラインです。3.5 keV 〜 23 keVのX線を利用して材料評価などを行うことができます。H2ガスの供給・除害設備を利用することができます。


単色X線トポグラフィー
 

薄膜X線回折用多軸回折計
(RIGAKU製 SmartLab.)

粉末X線回折装置
(デバイシェラーカメラ)
光子エネルギー範囲 3.5 keV 〜 23※ keV
エネルギー分解能(△E/E) 10-4 〜 10-3
光子数 108 〜 1011 photons/sec
ビームサイズ(試料面) 0.5 mm(H) × 0.4 mm(V)

※ 16 keV以上のX線を使用する場合は、ビームライン調整が必要なため事前にご相談ください。

研究分野 (キーワード)

バルク、薄膜、粉末、ナノスケール材料の組成、構造、形態、膜厚評価等

実験ステーション

 単色X線トポグラフィー

 薄膜X線回折測定装置

 粉末X線回折装置(デバイ・シェラーカメラ)