検索BL10：ナノサイエンスビームライン
電子蓄積リングの直線部に設置した偏光可変アンジュレータ（APPLE-Ⅱ型）からの高輝度な軟X線を利用して、材料評価などを行うことができます。光電子顕微鏡（PEEM1)）装置と角度分解光電子分光（ARPES2)）装置が設置されています。
- 1）PEEM：Photoemission Electron Microscopy
- 2）ARPES：Angle-resolved Photoemission Spectroscopy
偏光可変アンジュレータ
（APPLEⅡ）
角度分解光電子分光
（ARPES）装置
光電子顕微鏡
（PEEM）装置
BL10 全景
| 光子エネルギー範囲 | 40 eV 〜 900 eV |
|---|---|
| エネルギー分解能 （E/△E） | 〜 7500@400 eV |
| 光子数 | 〜 1 × 1010 photons/sec |
| 偏光モード | 水平直線偏光、円偏光（右回り、左回り）、楕円偏光、垂直直線偏光 （※偏光モードについては、ご相談ください） |
| ビームサイズ（試料面） |
PEEM装置：150 μm（H） × 20 μm（V） ARPES装置：500 μm（H） × 100 μm（V） |
研究分野 （キーワード）
PEEM（試料表面や超薄膜の仕事関数・電子状態・元素・化学結合状態を反映した２次元実空間像、等）、ARPES（表面・界面における組成・化学結合状態及び電子状態の分析、エネルギーバンド構造の観測、表面に配列した原子や分子の構造解析、等）、NEXAFS（軽元素含有材料の局所構造解析等）