お知らせ

HOME > お知らせ > トピックス > X線後方散乱を用いた新しい元素イメージング法を開発-物体深部の元素情報を表面から非破壊で取得可能に

X線後方散乱を用いた新しい元素イメージング法を開発-物体深部の元素情報を表面から非破壊で取得可能に

トピックス 2019年12月12日

概要

佐賀県立九州シンクロトロン光研究センター(以下SAGA-LS)は、物体深部の元素情報を取得できるイメージング法を開発しました。ネイチャー・リサーチグループの論文誌である"scientfic reports"誌に「世界初の手法」として論文が掲載されました。
illustration_forHP.png

○英国科学誌「Scientific Repots」オンライン版
https://www.nature.com/articles/s41598-019-54907-3

TOP