検索利用報告書 2023年度【2024年10月16日掲載】
トライアル利用
-
【2307029T】
EUV 用フォトレジストの感度評価
リソテックジャパン株式会社 ナノサイエンス研究所 関口 淳 氏 -
【2307032T】
小角X線散乱による脱塩した荷電シリカコロイド分散系の構造測定
大分大学 理工学部 理工学科 岩下 拓哉 氏 -
【2308046T】
逆格子マッピング測定を用いた、格子不整合InGaAs太陽電池の転位滑り面の面内分布異方性の観察
宮崎大学工学部 応用物理工学プログラム担当 鈴木 秀俊 氏 -
【2308049T】
酸化グラフェンを用いた機能性ダイヤモンド創出
熊本大学 関根 良博 氏 -
【2309057T】
電気化学的CO2還元能を有するCu/CuxM1-x表面合金ナノ結晶(M=Ag, Pd, Ru)の広域Ｘ線吸収微細構造解析
九州大学ネガティブエミッションテクノロジー研究センター 小林 浩和 氏 -
【2302123T】
低エネルギー軟X線光電子分光による親水撥油型フッ素系表面改質剤の表面状態と表面濡れ性との相関性解析
秋田県産業技術センター 先端機能素子開発部 阿部 禎也 氏 -
【2302127T】
X線吸収分光法を用いた固体電解質におけるタンタルの局所構造解析
大阪公立大学大学院工学研究科 本橋 宏大 氏 -
【2303139T】
シンクロトロン光照射が鉢物リンドウの花色変異に及ぼす影響
福岡県朝倉農林事務所 朝倉普及指導センター 中村 知佐子 氏
産業利用
-
【2304002I】
シンクロトロンX線トポグラフィーによる垂直ブリッジマン成長β型酸化ガリウムのショットキーバリアダイオードのキラー欠陥の同定
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2306023I】
シンクロトロンX線トポグラフィーによる垂直ブリッジマン（VB）成長基板上にハライド気相成長(HVPE)β型酸化ガリウムのショットキーバリアダイオードのキラー欠陥の同定
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2307031I】
改良したCMPプロセスを用いたHVPE成長β型酸化ガリウムのショットキーバリアダイオードのキラー欠陥のシンクロトロンX線トポグラフィー観察
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2308045I】
ショットキーバリアダイオード作製プロセス後に生じるHVPE成長β型酸化ガリウムのキラー欠陥のシンクロトロンX線トポグラフィー観察
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2311069I】
高耐電圧SBDのために厚膜化したHVPE成長β型酸化ガリウムのシンクロトロンX線トポグラフィー観察
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2311070I】
実使用に即して洗浄剤を適用したヒト角層構造の評価
佐賀大学リージョナル・イノベーションセンター 徳留 嘉寛 氏 -
【2312085I】
シンクロトロンX線トポグラフィー観察による厚膜化したHVPE成長β型酸化ガリウムのマイクロクラックを伴う多結晶欠陥の観察
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2312086I】
シンクロトロン光を活用した花き類の県オリジナル品種の育成
佐賀県農業試験研究センター 坂本 健一郎 氏 -
【2301102I】
シンクロトロン光照射によるカンキツの突然変異個体作出手法の開発
長崎県農林技術開発センター果樹・茶研究部門 中里 一郎 氏 -
【2301108I】
シンクロトロンX線トポグラフィー観察によるHVPE成長β型酸化ガリウムの不定形欠陥の観察－EFG基板上とVB基板上の比較
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2302124I】
シンクロトロンX線トポグラフィーによる気相堆積法（CVD）成長ヘテロエピタキシャルダイヤモンドの結晶欠陥評価－高温高圧合成（HPHT）単結晶とCVDホモエピタキシャル成長ダイヤモンド単結晶の比較
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2303135I】
シンクロトロンX線トポグラフィー観察によるHVPE成長β型酸化ガリウムのマクロクラックの生成機構の解明
佐賀大学大学院理工学研究科 嘉数 誠 氏 -
【2303136I】
三重津海軍施設跡で発掘された磁器の胎土および染付染料の化学組成と磁器の産地との包括的関係
佐賀大学 田端 正明 氏
重点分野利用（エネルギー関連分野）
-
【2305010P】
両スルホベタインブロック共重合体のメソ構造制御による高イオン伝導性高分子固体電解質の開発
大分大学理工学部 檜垣 勇次 氏 -
【2305016I】
ポリオレフィンのメソスケールの内部構造が及ぼす力学的特性に関する基礎研究
福岡大学機能・構造マテリアル研究所 パントン パチヤ 氏 -
【2306025P】
二次電池用炭素材料中のリチウム・ホウ素・酸素・炭素の軟X線XAFS解析
東北大学多元物質科学研究所 吉井 丈晴 氏 -
【2307036P】
ポリオレフィンのメソスケールの内部構造が及ぼす力学的特性に関する基礎研究
福岡大学研究推進部 機能・構造マテリアル研究所 パントン パチヤ 氏 -
【2308040P】
電析薄膜のEXAFS測定による局所原子配列の解析
大阪公立大学大学院工学研究科機械系専攻 東野 昭太 氏 -
【2308041P】
In-situ XAFSによる原子精度ニッケルクラスター内の活性化エネルギー削減サイトの構造解明
東京工業大学科学技術創成研究院 森合 達也 氏 -
【2308043P】
フッ化物電池用MnF3電極の軟X線吸収による電極反応評価
九州大学先導物質化学研究所 猪石 篤 氏 -
【2308044P】
X線イメージングによる蓄熱材料ハスクレイの組織観察
岩手大学理工学部 吉本 則之 氏 -
【2308047P】
Liイオン二次電池のための金属ドープ酸化ニオブ負極における4d金属種の電子構造解析
北海道大学工学研究院 北野 翔 氏 -
【2308048P】
Liイオン二次電池のための金属ドープ酸化ニオブ負極における3d金属種の電子構造解析
北海道大学工学研究院 北野 翔 氏 -
【2309059P】
二次電池用炭素材料中のリチウム・ホウ素・酸素のXPS解析および軟X線XAFS解析
東北大学多元物質科学研究所 吉井 丈晴 氏 -
【2311066P】
耐熱・耐久性に優れた燃料電池セパレータ用特殊ポリオレフィンのミクロ相分離構造
大分大学 檜垣 勇次 氏 -
【2311077P】
逆格子マッピング測定を用いた、格子不整合InGaAs太陽電池の転位滑り面の面内分布異方性の観察
宮崎大学工学部応用物理工学プログラム担当 鈴木 秀俊 氏 -
【2311078P】
表層土壌圏を対象とした新規CCUSに基づくエネルギー資源開発支援
広島大学大学院先進理工系科学研究科 社会基盤環境工学プログラム 畠 俊郎 氏 -
【2311080P】
フッ化物電池用MnF3電極の軟X線吸収による評価
九州大学先導物質化学研究所 猪石 篤 氏 -
【2312089P】
XANES測定を利用した層状・不規則岩塩型Li1.2Cr0.4M0.4O2（M=Mn, Ti）正極の充放電反応機構の解明
山口大学大学院 喜多條 鮎子 氏 -
【2312092P】
鉄鉱石中リン存在状態解析のための模擬試料に対するXAFS測定
東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター 篠田 弘造 氏 -
【2312093P】
XAFSを用いた発電炉から発生する木質灰に含まれる重金属の形態解析
東北大学大学院農学研究科 牧野 知之 氏 -
【2312094P】
二酸化炭素光還元能を示す共有結合性金属-有機構造体の粉末X線回折を用いた構造評価
東北大学金属材料研究所 芳野 遼 氏 -
【2301103P】
硫化物系正極材料の軟X線吸収による評価
九州大学先導物質化学研究所 猪石 篤 氏 -
【2301105P】
ポリオレフィンのメソスケールの内部構造が及ぼす力学的特性に関する基礎研究
福岡大学研究推進部 機能・構造マテリアル研究所 パントン パチヤ 氏 -
【2301106P】
高耐熱性燃料電池セパレータ用新規多元オレフィン系共重合自己修復性エラストマーの小角X線散乱測定による分子鎖凝集構造解析
大分大学理工学部 檜垣 勇次 氏 -
【2301109P】
EXAFS測定によるイオン液体中の局所原子配列の解析
大阪公立大学大学院工学研究科 機械系専攻 東野 昭太 氏 -
【2301111P】
キャパシタ・二次電池用3次元グラフェン材料中のホウ素・窒素・酸素のXPS解析および軟X線XAS解析
東北大学多元物質科学研究所 吉井 丈晴 氏 -
【2302125P】
硫化物系正極材料の軟X線吸収による評価
九州大学先導物質化学研究所 猪石 篤 氏 -
【2302126P】
X線吸収・共鳴光電子分光による蓄電池材料の電子状態解析
産業技術総合研究所 朝倉 大輔 氏 -
【2303137P】
XAFSを用いた発電炉から発生する木質灰に含まれる重金属およびカリウムの形態解析
東北大学大学院農学研究科 牧野 知之 氏
重点分野利用（半導体関連分野）
-
【2306024P】
動的なNi(II)中心を有する二次元配位高分子のXAFS測定を用いた構造解析
九州大学大学院 理学研究院化学部門 大谷 亮 氏 -
【2311074P】
プロトン伝導性二次元配位高分子の粉末X線回折測定を用いた結晶構造解析
九州大学大学院 理学研究院化学部門 大谷 亮 氏 -
【2311075P】
平面四配位型二次元配位高分子のXAFS測定を用いた構造解析
九州大学大学院 理学研究院化学部門 大谷 亮 氏 -
【2311076P】
EUVリソグラフィー用レジストの感度評価とラフネス評価（１）
リソテックジャパン株式会社ナノサイエンス研究所 関口 淳 氏